2023.07.21
半導体量子ナノ構造、特に、単電子、スピン、光子を制御する技術を基盤に、物理現象の探索、量子情報転送などこれまでにない機能を実現するデバイスの開発を目指しています。また、抵抗変化メモリや相変化材料といった構造変化材料との融合も進めています。
微小電流測定システム、共焦点顕微鏡システム、温度可変マニュアルプローバー、相変化材料蒸着器、電子ビーム蒸着-RFマグネトロンスパッタ融合装置
単電子、単一光子レベルの測定が可能です。またナノスケールの半導体微細加工や構造変化材料の蒸着も可能です。本技術を駆使して、特性の不明な新規材料等の物性解明などに貢献できればと考えております。
1. T. Nakaoka, Y. Tamura, T. Saito, T. Miyazawa, K. Watanabe, Y. Ota, S. Iwamoto, and Y. Arakawa, “Competing influence of an in-plane electric field on the Stark shifts in a semiconductor quantum dot”, Applied Physics Letters. 99, 181109/1-3 (2011).
2. T. Nakaoka, H. Satoh, S. Honjo, and H. Takeuchi, “First-sharp diffraction peaks in amorphous GeTe and Ge2Sb2Te5 ・〕ms prepared by vacuum-thermal deposition”, AIP Advances. 2, 042189 (2012).
3. T. Nakaoka, K. Watanabe, N. Kumagai, and Y. Arakawa, “A single-electron probe for buried optically active quantum dot”, AIP Advances 2, 032103 (2012).